IO-Linkを備えた測定システム

IO-Linkを備えた、初めての磁歪位置測定システム

バルーフ（Balluff）社の位置測定システムは、製造業や組立産業の中のいろいろな所で測定長を正確に測定するために使われます。マイクロパルスBTL6プロファイルPF IO-Linkモデルによって、バルーフ社はIO-Linkバスを備えた磁歪位置測定システムの最初のメーカーとなります。

測定値と状態データは全て、わずか3本ワイヤのIO-Linkを通して制御レベルにデジタル的に送信できます。インテリジェントな通信インターフェースを備えた、この非接触のトランスデューサは、コンフィギュレーションを簡単にし、早く設置でき、配線にかかるコストを減らせるような所に使います。IO-Linkのおかげで、最終結果をデジタル出力し、生産性の高い製造ソリューションによって自動コンフィギュレーションを動作中でも可能にします。また、プロセスレベルまで落とした診断機能を見えないようにして動かしています。

バルーフ社のPF磁歪位置測定システムは、平坦な構造を特長としており、堅牢性が高く、振動や衝撃に強く、汚れにくい設計の筐体IP67を採用しています。マルチ磁石の技術のおかげで、この非接触トランスデューサは測定位置を信頼性高く検出し、絶対値を確実にし正確な結果を出力します。測定できる長さは50mm～4570mmで、この位置測定システムは、最大15mmのセンサプロファイルまで、位置エンコーダの縦横オフセットを許容できます。

このポイントツーポイント接続技術を使えば、どのようなタイプのネットワークでも、IO-Linkは、双方向の高性能通信を確立します。IO-Linkの設計に対する強い需要が背景にあるため、このインテリジェントなインターフェースを備えた製品ラインから別のデバイスにもマイクロパルスのPF IO-Linkを取り付けることができます。この非接触の位置測定製品は、230kB/秒の速度で通信し、1msのプロセスデータサイクルと、1μmの分解能を持っています。この結果、高速移動の場合でも信頼性高く検出します。標準的なセンサケーブルを、M12コネクタを通して、このトランスデューサは素早く簡単にIO-Linkマスターに接続し、コントローラに搭載できます。

統合的な情報の流れによって、全てのデータは中央に保存され整合性を取っています。IO-Linkと、動作中のコンフィギュレーション、モニタリング、診断を使えば、事象が起きている所に向けて全ての方法を駆使できます。

  さらに詳しく…