将来の6G無線通信規格に向けた技術要素に関する研究が活発になるなか、6GのためのAIネイティブ無線インターフェース（AI-native air interface）の可能性も追求されています。なかでもNVIDIA社と連携するローデ・シュワルツは、未来の6G技術における人工知能/機械学習（AI/ML）について、シミュレーションの段階から実装の段階へともう一歩踏み出そうとしています。MWC Barcelonaでは、私ども両社から、業界初となるニューラル・レシーバのHiL（hardware-in-the-loop）を実演しながら、学習済みMLモデルを使えば従来の信号処理よりも性能の向上が達成できることを紹介する予定です。

ローデ・シュワルツは、世界中のティア1のチップセット・メーカーがそれぞれの製品について5G RedCap（Reduced Capability）などの3GPPリリース17対応機能を検証するのを支援しています。

ローデ・シュワルツは、無線通信テストに関する卓越した技術的知見と生活に直結するモバイル産業エコシステム全体への深い理解をもとに、バルセロナで開催のMobile World Congress 2023に参加します。“試験、評価、そしてその先の技術革新へ”をスローガンに、魅力的で画期的なモバイル/無線通信テスト・ソリューションの製品ラインナップをご紹介する予定です。

ローデ・シュワルツは、位相雑音解析と電圧制御発振器（VCO）測定の性能をさらに高めるため、1台の計測器にシグナル・スペクトラム・アナライザも統合したハイエンドR&S FSWP位相雑音アナライザ/VCOテスタと、専用機であるR&S FSPN位相雑音アナライザ/VCOテスタの両方をアップグレードしました。

モバイルネットワークに対するエンドユーザーの体感品質（quality of experience：QoE）は顧客離れに影響を与えることから、モバイルネットワーク事業者（MNO）のビジネスを直接左右する重要な要素の一つです。

バーチャル形式としては3回目となるDemystifying EMC カンファレンスを2023年2月に開催し、世界中のエキスパートを集めてEMCに関する最新情報をお届けします。業界のリーダーによるオンラインのライブ・プレゼンテーションと高品質なバーチャル・トレーニング・セッションを3つのタイムゾーンに合わせて配信し、後日、世界各地で対話形式イベントも行います。

　O-RAN ALLIANCE Global PlugFest Fall 2022の一環として、先日、オープンラボのi14y Labが開催したOpen RANサービス/プラットフォームのプラグフェストに対し、ローデ・シュワルツとVIAVI Solutions社は業界をリードするそれぞれの能力を持ち寄ったO-RAN無線ユニット（O-RU）コンフォーマンス試験向けの統合ソリューションを提供しました。この自動テスト・ソリューションにより、O-RANと3GPPの両プリコンフォーマンス要件に従って、Analog Devices社の画期的な8T8R のO-RUレファレンス・デザインと開発キットの検証が可能になりました。

ローデ・シュワルツとBroadcom社は、Broadcom社のWi-Fi 7用チップセットについてR&S CMP180無線通信テスタの有用性検証に成功しました。これにより、ワイヤレス機器のOEMやODM企業の皆様には、それぞれのWi-Fi 7対応製品を市場投入する準備に取り掛かっていただけるようになりました。

ローデ・シュワルツとNothing Technology社は力を合わせて研究開発プロセスに取り組んでおり、Nothing Technology社の新スマートフォンPhone (1)について、その5Gマルチバンド・キャリア・アグリゲーションとアプリケーションレイヤーの性能をR&S CMX500ワンボックス・シグナリング・テスタを使って評価しました。この協力を通じて、Nothing Technology社は新デバイスの発売を実現するとともに、現在から将来におよぶ複雑な5Gキャリア・アグリゲーションとアプリケーションレイヤー性能に対するあらゆる適合要件を満たすことができました。

パートナー企業のLöhnert Elektronik社とともに、ローデ・シュワルツは定評あるR&S QAR50をもとに、バンパー生産におけるレーダー透過性テストのための完全自動ターンキー・ソリューションを発売しました。このR&S QAR50-Rの軽量でコンパクトなセットアップによって測定アンテナの精密な位置決めが容易になり、実用性の高いテストをより高速かつ高確度に行えます。そのため、スループットや歩留まりが高まるとともに、バンパなどのエクステリア部品のEOL（エンド・オブ・ライン）測定においてさまざまなDUT（非試験デバイス）に対応するための柔軟性も増します。